仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
测量块材及薄膜的光学常数；测量薄膜的厚度；测量分析材料光学常数与温度的关系；测量分析与光学常数相关的各类材料微结构特性
主要技术指标：
*1.1 光谱范围：1.7~30 μm
1.2 光谱分辨率：至少可达2 cm-1
1.3 角度计：自动变角，θ-2θ变角机构，变角范围32~90°，转角准确性0.01°，转角重复性0.005°
*1.4 样品台方式：垂直
1.5 样品台可装载样品大小：样品最大尺寸不小于F150 mm，厚度不小于20 mm
1.6 数据获取及分析软件：3份
1.7 保护：所有易潮解的红外光学件可使用氮气或干燥压缩空气保护（配置气体管路）
1.8 参数测量范围：Ψ（0~90o）；Δ（0～360o）
*1.9 椭偏技术：使用旋转补偿技术
*1.10 测量准确性：在1.7~30 μm光谱范围内，入射角为90°，测量空气时y：45° ± 0.14°， D：0° ± 0.8°
1.11 测量重复性： y优于0.015°； D优于0.08°（在波长2000cm-1上的30次测量空气的标准偏差）
1.12 变温台附件:
椭偏测量温度范围：-70°C to 600°C
最大样品尺寸：20mm by 20mm
带光学窗片的盖子（可吹扫样品）
带盖子时入射角为70度，不加盖子时可以变角测量
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
询价