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功能/应用范围：
适用于固体（如：粉末，薄膜、块体）、液体（如：胶体、溶液）等各类样品。可以测定散射体分散性、尺寸分布、平均尺寸、体积分数、比表面积、孔隙度、粒子形状、平均壁厚、界面层平均厚度，纳米尺度的周期性结构分析、散射体分形特征，以及材料结晶性、取向及相变分析。
主要技术指标：
X射线光源一：高亮度微焦斑液态Ga靶点光源，波长1.341 Å，最大功率250 W；
X射线光源二：高亮度微焦斑固态Cu靶点光源，波长1.542 Å，额定功率30 W，单位面积功率密度≥8.0kW/mm2；
样品处最大X射线光通量：≥ 2.0 ×109phs/s (液态Ga靶)；
样品处光斑大小在0.15mm~2.4mm范围内实时、连续、自动改变，精度0.001 mm；
样品腔可进行真空、空气/气氛环境测试，入射及反射光路均处于真空；
探测器类型：固体硅阵列二维单光子计数探测器，型号：Eiger 2R 1M；
样品到二维探测器的距离：最大4600 mm, 最短 ≤ 45 mm (透射)或 ≤ 70 mm (掠入射)；
系统自动连续采集二维图谱的极限角度或q范围：2θ_min ≤ 0.014°, q_min ≤ 0.01 nm-1, 2θ_max ≥ 75°, q_max ≥ 49 nm-1（Cu靶）；
透射模式：所有样品台均具有自动采集2θ = 60°，q = 40 nm-1（Cu靶）处完整的360°全方位角的原始、完整二维图谱；
掠入射模式：自动连续测试0.01 nm-1 ~ 30 nm-1（Cu靶）的二维图谱；
升降温样品台：-150℃~350℃，温控精度 ± 0.1℃；
拉伸样品台：0-20N（精度0.001 N），0-200 N （精度0.01 N），同时可变温-150℃~250℃；
原位气氛反应仓（掠入射小角模式）：可承受不低于4 bar的压力，同时可变温-150℃~600℃。
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
500~2000