
仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
该机台通过编程设定,可以实现加热到预设温度25~150℃,将需要做耐高温测试的芯片,放到半导体老化测试炉中,老化筛选的原理及作用是给电子元器件施加热的、电的或者多种结合的外部应力,模拟恶劣的工作环境,使它们内部的潜在故障加速暴露出来,然后进行电气参数测量,此参数为电压电流参数,依据实验前后是否有异常变化,比如忽然变大变小来筛选剔除那些失效或变值的元器件,尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。
主要技术指标:
功能/应用范围: 该机台通过编程设定,可以实现加热到预设温度25~150℃,将需要做耐高温测试的芯片,放到半导体老化测试炉中,老化筛选的原理及作用是给电子元器件施加热的、电的或者多种结合的外部应力,模拟恶劣的工作环境,使它们内部的潜在故障加速暴露出来,然后进行电气参数测量,此参数为电压电流参数,依据实验前后是否有异常变化,比如忽然变大变小来筛选剔除那些失效或变值的元器件,尽可能把早期失效消灭在正常使用之前。
主要附件: 无
主要技术指标: HPB-5C是用于大功率可高?_150W,超大规模集成电路芯片
服务内容:
服务典型成果:
无
用户须知:
对外服务时间:周一-周日。参数:HPB-5C是用于大功率可高?_150W,超大规模集成电路芯片的各种老化测试设备。老化炉的配置为有16块老化板,且每块老化板可以最多同时测试24个芯片,vector memory最高为64M。此系统在老化测试时,最高温度可以达到150度。所有系统中的老化板都由PLC控制,PLC控制并监控系统的老化测试的整个过程。机台拥有强大的测试功能,能提供128个信号测试通路。。附件:无
收费标准:
面议