仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
DPU、GPU、CUP、SOC、FPGA等大规模集成电路动态老化测试(HTOL)。
主要技术指标：
最高36个老化板插槽，实验温度最高150度，每个插槽250个I/O通道，每个通道独立编程，10 MHz矢量信号频率，20 MHz时钟信号频率，矢量信号深度32M。
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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