仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
实现固体、薄膜、粉末、液体材料反射、透射、吸收的无损测量。能够提供最高的灵敏度和分辨率，适用于光学材料的测量，具有分析精度高、测量范围广、分析速度快、样品用量少等优点。
主要技术指标：
光学系统：所有光学表面均有SiO2保护覆盖层，全息光栅,UV/VIS1440线/毫米，闪耀波长240nm，NIR360线/毫米，闪耀波长1100nm，双Littrow型单色器。
双光束系统：旋转斩光器，46HZ，CSSC专利校正技术（四区分段的扇形信号收集的斩波器技术，黑区/样品/黑区/参比循环）
LAMBDA1050检测器：UV/VIS R6872PMT，NIR半导体制冷InGaAs、半导体制冷PbS三检测器。
光源：预准直氘灯、钨灯。
波长范围：175-3300nm (185nm以下需氮气吹扫)。
波长分辩率：UV/VIS：<0.05nm，NIR：<0.20nm。波长准确度：UV/VIS：+/-0.08nm，NIR：+/-0.30nm。
波长重复性(10次测量):：UV/VIS：<0.005nm，NIR：<0.020nm。吸光度准确度：+/-0.0003A(0.5A) 。
吸光度线性：UV/VIS：+/-0.001A(1.0A)+/-0.002A(2.0A)+/-0.006A(3.0A)。
吸光度重复性：<0.00008A(0.3A)<0.00008A(0.5A)<0.00016A(1.0A)。吸光度范围：UV/VIS：8ABSNIR：8ABS。
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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