仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
测试材料的带隙覆盖紫外到近红外波段，频段从190nm-1700nm，并且搭载了显微探测的功能，测试厚度的精度到0.02nm，测量材料的n和k值。
主要技术指标：
3.1、测量氧化硅薄膜厚度范围：4nm-100um
3.2、测量n和k值最小厚度要求：50nm
3.3、＊波长范围：190-1700nm
3.4、光纤通光波长范围：190-2200nm
3.5、准确度：0.2%或1nm（针对附带氧化硅厚度标准片）
3.6、精度：0.02nm（针对附带氧化硅厚度标准片）
3.7、稳定性：0.05nm（针对附带氧化硅厚度标准片）
3.8、物镜：配置15倍紫外可见红外均透的反射式镜头
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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