仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
1.对纳米晶片表面粗糙度的检测设备（SSIS）的校准关键技术进行探索，基本上掌握了纳米单分散PSL标准粒子的产生、电迁移分级、静电沉积和气溶胶纳米粒子测量技术，对我国有自主知识产权的纳米芯片生产提供服务。
2.项目用美国标准技术研究院（NIST）的标准粒子校准扫描电迁移分析系统（SMPS），解决了该系统粒径测量的溯源问题。对大气云层，城市上空颗粒物分布统计、空气污染、环境治理的研究有很大的意义。
3.气相法纳米粒子制备在线检测，控制粒径参数条件能够及时的反馈。
4.可开展激光粒子计数器、凝聚核粒子计数器的
主要技术指标：
功能/应用范围： 1.对纳米晶片表面粗糙度的检测设备（SSIS）的校准关键技术进行探索，基本上掌握了纳米单分散PSL标准粒子的产生、电迁移分级、静电沉积和气溶胶纳米粒子测量技术，对我国有自主知识产权的纳米芯片生产提供服务。 2.项目用美国标准技术研究院（NIST）的标准粒子校准扫描电迁移分析系统（SMPS），解决了该系统粒径测量的溯源问题。对大气云层，城市上空颗粒物分布统计、空气污染、环境治理的研究有很大的意义。 3.气相法纳米粒子制备在线检测，控制粒径参数条件能够及时的反馈。 4.可开展激光粒子计数器、
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:周一至周五。参数：本系统的主要技术指标：气溶胶粒径测量范围：3～1000nm，浓度上限为千万个/立方厘米，对NIST100nm标准粒子测量的扩展不确定度为3nm。。附件：无
收费标准：
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