仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
光谱式椭偏仪
主要技术指标：
光谱范围：深紫外，可见光，近红外（190nm~2400nm）波长分辨率：全谱段要求不大于0.5nm 厚度测量范围:1nm-10um, 厚度测量精度:0.1A 微光斑全自动操作
主要功能用途: 测量各类（包括电介质、有机物、半导体、金属等）薄膜（包括透明基底上的透明薄膜）的膜厚及介电常数（n，k）、组分比等；对材料的各向异性、多层膜、膜层致密性、多孔材料、高分子薄膜等特殊结构的材料具有光学性能的分析能力，可以测量薄膜的反射率、透射率、各向异性、双折射、散射、偏振、Muller矩阵等
服务内容：
对材料的各向异性、多层膜、膜层致密性、多孔材料、高分子薄膜等特殊结构的材料具有光学性能的分析，测量薄膜的反射率、透射率、各向异性、双折射、散射、偏振、Muller矩阵等
服务典型成果：
无
用户须知：
苏州大学大型精密贵重仪器设备管理办法
苏州大学大型仪器设备收费管理暂行办法
苏州大学大型仪器设备共享管理办法（试行）
收费标准：
面议