仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
高质量原子分辨图像，观察样品表面形貌特征
配备氩离子枪和蒸发源，可制备各类样品并原位表征
AFM扫描模式可以对绝缘体材料表面进行表征
主要技术指标：
扫描样品台变温范围：60K~800K
图像分辨率：z方向0.01nm，XY方向0.1nm
样品台移动范围：XY方向±4mm
本底真空：MBE制备室<8.0X10-11mBar，STM扫描室<5.0x10-11mBar
噪音水平：<10 pm @1-5Hz, <2 pm @5Hz以上
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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