仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
该设备不仅能对表面形貌成像，同时还具备静电力显微镜、磁力显微镜、表面电势测量等功能。特别是进行压电力显微镜测试，可得到相应区域纳米尺度的铁电畴信息，还能通过探针对样品施加应力和电场对铁电畴进行精确的控制操作，并且通过相关软件的控制能够实时的记录铁电畴在外加电场作用下的运动轨迹，实现铁电畴运动的动态观察。
主要技术指标：
可完成以下几种模式的测量：
1．接触模式 (Contact Mode)
2. 轻敲模式 (AC Mode) - 拥有Q-control控制技术
3. 力曲线/力谱测量（Force）
4. 双频共振轻敲模式（Dual AC Mode）
5. 压电力显微镜(Piezoresponse force Microscopy, PFM)
6. 静电力显微镜(Electric Force Microscopy, EFM)
7. 磁场力显微技术(Magnetic Force Microscopy, MFM)
8. 表面电势测量 (Surface Potential)
分辨率满足：
1.XY轴闭环分辨率Closed Loop Sensor Noise<60pm，Z轴分辨率Closed Loop Sensor Noise<50pm;
2.XY轴开环噪声水平Open Loop Noise< 8pm，Z轴开环噪声水平Open Loop Noise< 4pm
3.光学探测噪音DC Detector Noise: <5pm
4.AC探测噪音AC Detector Noise: < 25fm/√Hz above 100kHz
5.DC高度噪音DC Height Noise: < 15pm
6.AC高度噪音AC Height Noise: < 15pm
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:工作日。参数：可完成以下几种模式的测量：
1．接触模式 (Contact Mode)
2. 轻敲模式 (AC Mode) - 拥有Q-control控制技术
3. 力曲线/力谱测量（Force）
4. 双频共振轻敲模式（Dual AC Mode）
5. 压电力显微镜(Piezoresponse force Microscopy, PFM)
6. 静电力显微镜(Electric Force Microscopy, EFM)
7. 磁场力显微技术(Magnetic Force Microscopy, MFM)
8. 表面电势测量 (Surface Potential)
分辨率满足：
1.XY轴闭环分辨率Closed Loop Sensor Noise<60pm，Z轴分辨率Closed Loop Sensor Noise<50pm;
2.XY轴开环噪声水平Open Loop Noise< 8pm，Z轴开环噪声水平Open Loop Noise< 4pm
3.光学探测噪音DC Detector Noise: <5pm
4.AC探测噪音AC Detector Noise: < 25fm/√Hz above 100kHz
5.DC高度噪音DC Height Noise: < 15pm
6.AC高度噪音AC Height Noise: < 15pm
。附件：PFM，ORCA
收费标准：
面议