仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
用来做高温老化试验的。在高温老化试验中，首先要根据老化测试系统机台内部的接口，另外设计制作老化测试板，将要测试的集成电路芯片插在老化测试板上，再将老化测试板插入老化测试系统内部的接口中，老化测试系统内部接口可提供电压和信号，通过老化测试板供给芯片，同时让老化测试系统升温，让芯片在高温状态下工作。在一定的工作时间结束后取出集成电路芯片，再通过其他测试设备判断芯片是否损坏，从而判断集成电路芯片的寿命。
主要技术指标：
Support Chip Types: Logic Product & Memory Product; Max.Number of Slots: 36
Pattern vector depth:128k
Pattern channels: 96
Clock rate: 5MHz
Voltage:DPS1=DPS2=10V VIH: 1.5-8V
Power supply:DPS1=15A、DPS2=4.5A
Chamber Temperature 25 ℃~1
服务内容：
芯片1000hrs工作寿命试验 Vss=3.5V Time：1000hrs Temp:125℃
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:。参数：Support Chip Types: Logic Product & Memory Product; Max.Number of Slots: 36
Pattern vector depth:128k
Pattern channels: 96
Clock rate: 5MHz
Voltage:DPS1=DPS2=10V VIH: 1.5-8V
Power supply:DPS1=15A、DPS2=4.5A
Chamber Temperature 25 ℃~1。附件：Burn in board (老化测试板）
收费标准：
面议