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上海季丰电子股份有限公司
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半导体芯片静放电抗静电检测系统
型号:ORION3
制造厂商:赛默飞
购置日期:
生产国别:美国
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
1.该测试系统旨在评估超大规模集成电路设备的充放电能力,; 2.可监控放电过程中的放电电流波形图;
主要技术指标:
CDM测试,用于模拟集成电路因感应存储带电,当接触地时而产生的放电类型,可用于测试电压 0V ~ 2000V;
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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