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上海季丰电子股份有限公司
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半导体芯片静电放电和闩锁效应测试系统
型号:MK2
制造厂商:赛默飞
购置日期:
生产国别:美国
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
1.该测试系统旨在评估超大规模集成电路设备的能力,引脚数高达768引脚承受静电放电脉冲,有许多不同类型的放电波形可用和各种方法来检测集成电路的损伤; 2.提供电源测量,引脚泄露测量和曲线追踪,用于测试期间检测故障的参数测量;
主要技术指标:
1.HBM用于模拟集成电路因与带电人员接触而产生的放电类型,可用于测试电压 0V ~ 8000V; 2.MM用于测试集成电路对其他类型ESD损伤的敏感性,可用于测试电压 0V ~ 2000V; 3.闩锁效应测试能力范围: current 0V ~ 1A, voltage 0V ~ 100V;
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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