仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
在显微镜底下，利用探针（软针、硬针、pico probe针）测试IC芯片pad信号、对fib引出的十字pad进行电性测量。
主要技术指标：
Probe探针台主要应用于半导体行业以及光电行业的测试。广泛应 用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性， 并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
服务内容：
无
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:。参数：Probe探针台主要应用于半导体行业以及光电行业的测试。广泛应 用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性， 并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。。附件：探针台、探针座、探针杆、探针
真空泵
收费标准：
面议