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上海理工大学
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台阶仪
型号:DEKTAK XT
制造厂商:布鲁克(北京)科技有限公司
购置日期:
生产国别:中国
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
测试薄膜厚度
主要技术指标:
1. ★最大扫描长度≥50mm; 2. ★测试所允许的最大样品高度≥50mm; 3. ★垂直方向的扫描范围≥900微米; 4. ★测试高度方向的重复性≤0.4nm(1微米的标准台阶); 5. 测试垂直分辨率≤0.1nm 6. 光学系统:彩色CCD 180x放大倍率 7. XY移动载物台,X≥100mm行程,Y≥100mm行程; 8.探针压力:1-15mg能精确控制探针压力,保证在不同力下不破坏样品。 9. 提供证书的校准用标样 10.系统具有超光滑平面,保证扫描基线稳定性 11. ★可以在原仪器上直接从2D升级成3D模式,不需要重新购买一台新仪器。 12.提供专用分析软件并终身免费升级 13.多次扫描分析≥15次 14. ★仪器采用成熟的LVDT传感器,保证仪器稳定性,数据重复性和可靠性
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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