仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
利用探针（软针、硬针、pico probe针）测试芯片pad信号 对fib 引出的十字pad进行电性测量，以及其他晶圆级DC测试、RF测试、TH测试和PT等半导体相关测试。
主要技术指标：
Probe探针台主要应用于半导体行业以及光电行业的测试。广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。
服务内容：
无
服务典型成果：
无
用户须知：
收费标准：
面议