仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
I-V Curve 电特性量测原理是 ，利用自动曲线追纵仪电特性量测的方式，快速计算阻值，确认各脚位(Pin)关系并实时筛检出异常(Open / Short)，另可产出曲线图文件。芯片或晶圆级的IV测量也可以配合探针台使用，主要针对（FIB）线路修补之后的电性测试及验证，配合probe station针座可以最多同时可点6根针。可配套 soket同时测量多组数据，probe在封装体被破坏或无配套soket时，也可用作线路搭建以便于电性测试或输入输出的线路。
主要技术指标：
电压范围： ±10V
电流范围： ±10mA
精度： ±1uA,±1uV
对比功能： 同一界面可同时比对上百条IV曲线，也可同时显示上百条IV曲线，可快速筛出异常sample
取样点间隔范围: 0.0001V-0.5V
探针台硬针： 1um,10um
探针台软针： 0.2um,0.4um
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:8:30-17:30。参数：在显微镜底下，利用探针搭接于IC内部线路，使其可以外接各项设备，以便量测或输入讯号。附件：Laser system,探针
收费标准：
面议