仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
半导体参数分析仪是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用多个测量槽和内置低噪声接地单元，可以根据测试要求进行精密配置和测量。
主要技术指标：
配备2个中功率直流IV测量单元：电流表测试量程/分辨率/精度（最小：100nA/50fA/30pA，最大：105mA/50nA/3uA）电流源输出量程/分辨率/精度（最小：100nA/5pA/30pA，最大：105mA/5uA/15uA）电压表测试量程/分辨率/精度（最小：200mV/1uV/100uV，最大：210V/200uV/3mV）电压源输出量程/分辨率/精度（最小:200mV/5uV/150uV，最大：210V/5mV/15mV）；配备1个CV测量单元；可测量Cp-G, Cp-D, Cs-D,
服务内容：
无
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:。参数：。附件：
收费标准：
面议