仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
可测定波长范围从280nm-2300nm的透射和反射光谱；
在同一区域可同时测定T和R值；
可对折射率(n)，吸收系数(k) 和厚度(d)进行准确测定；
样品可在X-Y扫描台上进行扫描；
入射光角度可以是固定角度、多角度和从0°-90°的连续变化的角度；
可用s-、p-或非偏振光作为入射光对T和R进行测定；
可对透明基片进行测定且不需要对样品进行前处理；
内建的材料数据库；
密封的样品室；
可选择散射模式；
具有在线或离线分析功能。
主要技术指标：
光谱范围：nkd-8000v 280nm-1000nm ( 紫外增强型)
光谱分辨率：1nm或2nm
光源：150W 氙弧灯
薄膜厚度范围： 5nm-20um，取决于角度、偏振和波长1nm 需要增加椭偏模块
基 片：透明、半透明或半吸收或半导体
精 确 度： 对于半吸收薄膜 薄膜厚度＜3%，折射率＜1%，消光系数＜3%
对于金属薄膜，薄膜厚度＜3%，折射率＜3%，消光系数＜3%
重 现 性：透射率＜0.1%反射率＜1%折射系数＜0.1%
入射光角度 30°、50°或70°
样品上的光斑尺寸 5mm
电 源 220V，50Hz，2A 或110V，60Hz，3A
服务内容：
无
服务典型成果：
无
用户须知：
收费标准：
面议