仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
用于半导体晶圆上的图形、像素点缺陷检测
主要技术指标：
缺陷检测最小精度：0.25微米
错误捕捉率：≥90%
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
2000元/时