仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
可以在大气环境下测试导体、半导体、绝缘体薄膜样品表面二维、三维形貌，均方根粗糙程度，具有样品制备要求简单，非损伤性测量，可以达到原子级别的图像。
主要技术指标：
扫描探针显微镜（Scanning Probe Microscope，SPM）是扫描隧道显微镜及在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的各种新型探针显微镜（原子力显微镜AFM,激光力显微镜LFM，磁力显微镜MFM等等）的统称，是国际上近年发展起来的表面分析仪器，是综合运用光电子技术、激光技术、微弱信号检测技术、精密机械设计和加工、自动控制技术、数字信号处理技术、应用光学技术、计算机高速采集和控制及高分辨图形处理技术等现代科技成果的光、机、电一体化的高科技产品。
服务内容：
测试导体、半导体、绝缘体薄膜样品表面二维、三维形貌，均方根粗糙程度
服务典型成果：
无
用户须知：
苏州大学大型精密贵重仪器设备管理办法
苏州大学大型仪器设备收费管理暂行办法
苏州大学大型仪器设备共享管理办法（试行）
收费标准：
面议