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上海理工大学
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白光干涉仪
型号:ZETA 20
制造厂商:泰勒霍普森有限公司
购置日期:
生产国别:英国
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
1. 三维表面纹理微观结构的测量、图形显示与分析 2. 三维表面粗糙度的分析 3. 表面纹理缺陷分析 4. 具有图像拼接功能(X、Y、Z方向) 5. 测量体积、面积、台阶(三维或者两维)高度、距离、圆弧半径等 6. 平面度测量和分析
主要技术指标:
1. 测量最大范围(X-Y轴):6.6mm x 6.6mm(2.5倍物镜) 1.65mm x 1.65mm(10倍物镜) 0.33mm x 0.33mm(50倍物镜) 2. 测量最大高度(Z轴):9.3mm(5倍物镜) 7.4mm(10倍物镜) 2.2mm-标准 3. 垂直分辨率:0.01nm 4. 台阶重复测量精度:小于0.1% 5. Z方向重复性:小于0.02nm 6. 样品表面反射率:0.3%-100% 7. 测量时间:典型为5-40秒 8. XY工作台直线度:0.8um/100mm 9. 环境温度 20度
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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