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江南石墨烯研究院
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高分辨率场发射透射电子显微镜
型号:JEM-F200
制造厂商:日本电子
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
微观结构观察:材料的形貌、结构、缺陷和界面的微观分析,包括明场像、暗场像、STEM像、选区电子衍射等;成分分析:可进行成分的定性和半定量分析,元素的点、线和面分析等。
主要技术指标:
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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