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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
单晶结构分析应用范围十分广泛,凡是可获得单晶体的样品均可用于分析。该方法样品用量少,只需0.5 mm大小的晶体一粒,即可获得被测样品的全部三维信息,结构包括原子间的键长、键角、分子在晶体中的堆积方式,分子在晶体中的相互作用以及氢键关系、π-π相互作用等各种有用信息。
主要技术指标:
1、X光源:Mo ,Cu双光源系统(软件自动切换)
2、探测器:4K CCD二维探测器
3、测角仪:固定κ轴的3轴测角仪
4、软件:使用图形用户界面的单晶帧数据获取和成像软件;面探测器数据收集整体方案最优化组织软件;SHELXTL结构解析和精修软件。
5 、液氮低温系统:温度控制范围:90K ~ 400K;控温精度:+/– 0.1 K
6、循环水冷系统:水温、水压与流量满足发生器要求,有过热保护,能连续工作,控温精度优于±2 K。
X射线单晶分析装置用以测定新化合物(晶态)分子的准确
服务内容:
凡是可获得单晶体的样品均可用于分析。
服务典型成果:
单晶结构分析是有机合成、不对称化学反应、配合物研究、新药合成、天然提取物分子结构、矿物结构以及各种新材料结构与性能关系
研究中不可缺少的最直接、最有效、最权威的方法之一。
用户须知:
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收费标准:
①测晶体结构(常温) 250元/样,②测晶体结构(低温) 400元/样,③测晶胞参数 60元/样