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功能/应用范围：
配合场发射扫描电镜，能同时实现纳米颗粒的成像和半定量成份分析。在使用较小束流的情况下，可通过点扫描、线扫描、面扫描等不同模式获得材料微区成分元素种类、含量和分布情况。
主要技术指标：
1.拥有优异能量分辨率的50mm2大面积SDD探头晶体
2.分析元素范围：Be-Pu
3.稳定性: 1,000cps—100,000cps
4.减小对束流的要求，在实际的工作条件下即可提高计数率
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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