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中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
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飞行时间二次离子质谱仪
型号:TOF.SIMS5-100
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
有机和无机材料的表面微量分析 直接来自表面的质谱 表面的离子成像(2D,3D)
主要技术指标:
工作压力:UHV 分析用离子源:Bi;剥离离子源:EI源和Cs源;选配团簇离子源; 可扩展应用于分析绝缘材料和生物医学材料; 5轴样品架,温度-150℃~600℃。
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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