仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
用于半导体或非导体材料的表面形貌分析
外加IXRF system，可做EDX分析
主要技术指标：
功能/应用范围： 用于半导体或非导体材料的表面形貌分析 外加IXRF system，可做EDX分析
主要附件： 无
主要技术指标： 分辨率0.1nm
技术特色： 外加IXRF system，可做EDX分析
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:周1-周5。参数：分辨率0.1nm
。附件：无
收费标准：
面议