仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
FIB截面加工
TEM样品制备
SEM成像
主要技术指标：
SEM分辨率：0.6 nm @ 2 keV；0.7 nm @ 1 keV？；1.0 nm @ 500 eV；
FIB最低电压优越性能：500V；
Stage行程：150 x 150 x 10 mm
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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