仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
FIB截面加工
TEM样品制备
SEM成像
主要技术指标：
SEM分辨率：0.6 nm @ 15 keV; 1.0 nm @ 1 keV;
FIB最低电压优越性能：2kV
Stage行程：110 x 110 x 65 mm
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
询价