仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
能精确地对金属和非金属多晶样品进行物相定性定量分析、结晶度分析、晶胞参数计算和固溶体分析，微观应力及晶粒大小分析，并能结合高低温原位测量模块，实现材料的原位结构检测。半导体单晶外延膜层材料的结晶完整性分析，多晶薄膜的厚度、密度、粗糙度分析。
主要技术指标：
电流电压稳定度：优于 0.005%测角仪：采用光学编码器技术与步进马达双重定位子探测器个数大于2880个，探测器有效面积≥14x16 mm入射三光路自动切换系统旋转样品台、高低温原位样品台、尤拉环样品台物相检索软件、正版PDF4-2020数据库、可编程定量分析软件无标样晶粒大小分析及微观应力分析粉末数据指标化、结构精修
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
具体详议