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江苏集萃有机光电技术研究所有限公司
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半导体特性探针台 (Semiconductor Probe Station)
型号:HMC-8
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
该设备是开展微电子与光电子原型器件研究的基本设备,可用于各种有机半导体器件与纳米器件的电学性能评估、电学行为分析等
主要技术指标:
卡盘尺寸:8英寸,X/Y轴无间隙移动平台快速升降行程 6mm并带自动锁定功能温度范围:-80度-200度高解析度长工作距离显微镜,目镜10X,物镜2X,10X,20X500万像素彩色数字摄像头,带观察测量软件漏电精度10 fA
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
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