仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
用于测量半导体与光电器件的I-V、C-V及Cp-G, Cp-D, Cs-Rs, Cs-D, R-jX, Z theta.等特性曲线
主要技术指标：
1.4200-SCS/F半导体特性分析系统主机，2个高分辨率中功率SMU
最大电流100mA，最大电压200V，最大功率2W
4200-SCS/F semiconductor characterization system with 2 high resolution medium power SMU
Max. current:100mA; Max. voltage:200V; Max. Power: 2W
2.4200-SMU高分辨率中功率SMU（源测量单元）
最大电流100mA；最大电压200V；最大功能2W；配置有4200-PA，扩展电流分辨率至0.1fA
4200-SMU high resolution medium power unit (source measure unit)
Max. current:100mA; Max. voltage:200V; Max. Power: 2W; configured 4200-PA, current resolution down to 0.1fA
3.4200-CVU C-V测试单元，扫描频率范围1KHZ-10MHz
4200-CVU C-V measurement unit, scanning frequency: 1KHZ~10MHz
服务内容：
无
服务典型成果：
无
用户须知：
收费标准：
面议