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X射线光电子能谱仪
型号:AXIS ULTRA DLD
制造厂商:KRATOS ANALYTICAL 公司
购置日期:
生产国别:美国
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
主要用于固体材料表面元素成份及价态的定性、定量分析,以及元素组成的深度剖析和成像。可广泛应用于金属、无机材料、半导体材料、聚合物、涂层材料等各种材料的研究。对腐蚀、摩擦、润滑、粘接、包覆、氧化等表面化学和物理现象的机理研究。
主要技术指标:
180度半球和球镜组合。平均半径165毫米。输入透镜:静电与专利磁透镜多组元组合。放大率:可编程。检测器:带最多128通道延迟线阳极的多通道板。扫描模式:固定分析器传输-FRR。能量范围:0-3200eV,0-1500eV(高分辨)。通能:可编程,5-320eV。阻滞率:可编程,3-14。极性:负(标准)、正(标准)。样品台:XYZθ(自动/手动)。样品个数:1/10/可变。样品移动(手动台):X:-10~+15毫米。Y/Z:±10毫米。样品移动(自动台):X:150毫米。Y/Z:±7.5毫米。样品倾斜:±180度(手动),±90度(自动)。放大率:25~150000倍。电子源能量:10keV。
服务内容:
教学
服务典型成果:
用户须知:
对外服务时间:周一~周五,8:30~17:00。参数:180度半球和球镜组合。平均半径165毫米。输入透镜:静电与专利磁透镜多组元组合。放大率:可编程。检测器:带最多128通道延迟线阳极的多通道板。扫描模式:固定分析器传输-FRR。能量范围:0-3200eV,0-1500eV(高分辨)。通能:可编程,5-320eV。阻滞率:可编程,3-14。极性:负(标准)、正(标准)。样品台:XYZθ(自动/手动)。样品个数:1/10/可变。样品移动(手动台):X:-10~+15毫米。Y/Z:±10毫米。样品移动(自动台):X:150毫米。Y/Z:±7.5毫米。样品倾斜:±180度(手动),±90度(自动)。放大率:25~150000倍。电子源能量:10keV。。附件:能量分析器,样品操控台,电子源,X射线源,计算机系统
收费标准:
面议
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