仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
利用激光光源发射出单色光和红外线，经起偏器后变成偏振光，在样品表面反射后，光的振幅和位相发生变化，由此来测量Si衬底上薄膜的厚度。
主要技术指标：
1. 可见光分光计（UV-Visible）<br>焦距：750mm；标准光谱范围：210-900nm；离差为550nm：0.45nm/mm；波长准确度0.04nm到313nm；在10nm的放射光下，偏离光小于0.01%。2. 近红外项目（NIR 3 OPTION）<br>能借助分光镜完成测量，能测的近红外转换光谱范围从0.9微米到2.0微米；利用电子学和光学插件模块对近红外测量进行支持。3. 红外变角度傅立叶变换椭偏法（FT-IRSE OPTION）光谱范围:1.44微米到17微米；光谱精确性：±0.2cm-1。
服务内容：
仪器设备功能相关的样品测试、分析及技术咨询
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:每周1-5。参数：1. 可见光分光计（UV-Visible）<br>焦距：750mm；标准光谱范围：210-900nm；离差为550nm：0.45nm/mm；波长准确度0.04nm到313nm；在10nm的放射光下，偏离光小于0.01%。2. 近红外项目（NIR 3 OPTION）<br>能借助分光镜完成测量，能测的近红外转换光谱范围从0.9微米到2.0微米；利用电子学和光学插件模块对近红外测量进行支持。3. 红外变角度傅立叶变换椭偏法（FT-IRSE OPTION）光谱范围:1.44微米到17微米；光谱精确性：±0.2cm-1。。附件：打印机一台，电脑一套。
收费标准：
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