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功能/应用范围：
薄膜材料的厚度与折射率的间接测量。通过测量薄膜表面的入射光与反射光之间的delta和Psai角，拟合出薄膜各层的厚度与折射率。测量波长范围为UV-VIS-NiR。测量面积5厘米平方。
主要技术指标：
测量波长范围 190nm-980nm-2100nm
Maping 5cmX5cm
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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