仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
根据X射线荧光原理在不破坏样品的前提下，测试样品电镀层厚度。可同时测定基材上电镀3层以及合金层厚度。
测量范围：0.02微米-25微米
主要技术指标：
根据X射线荧光原理在不破坏样品的前提下，测试样品电镀层厚度。可同时测定基材上电镀3层以及合金层厚度。
测量范围：0.02微米-25微米
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:工作日。参数：根据X射线荧光原理在不破坏样品的前提下，测试样品电镀层厚度。可同时测定基材上电镀3层以及合金层厚度。
测量范围：0.02微米-25微米
。附件：主机
收费标准：
面议