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上海旻艾半导体有限公司
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超大规模集成电路测试系统
型号:泰瑞达J750EX
制造厂商:泰瑞达
购置日期:
生产国别:美国
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
本中心将专注于三大类产品测试服务及相关技术开发:1射频产品测试;2数字模拟与混合信号测试;3新兴器件测试(高像素图像传感器、指纹模组传感器)。
主要技术指标:
射频产品(RF):可测试4G、5G通讯网络,MIMO,载波聚合,载波频率可达20G的移动终端射频前端器件,如:射频功率放大器、射频开关、双工器、滤波器和低噪声放大器等。 数字产品(SOC):可测试最新一代移动通讯基带和收发器产品,主频在1.2GHz以上,信号处理带宽高达160MHz,信号采样速率高于500MHz,精度24Bit。 高像素图像传感器:可测试1300万像素以上,用于移动终端、工业监控、科学分析等用途的图像传感器。具有海量数据吞吐能力,高速和并行数
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
对外服务时间:工作日。参数:射频产品(RF):可测试4G、5G通讯网络,MIMO,载波聚合,载波频率可达20G的移动终端射频前端器件,如:射频功率放大器、射频开关、双工器、滤波器和低噪声放大器等。 数字产品(SOC):可测试最新一代移动通讯基带和收发器产品,主频在1.2GHz以上,信号处理带宽高达160MHz,信号采样速率高于500MHz,精度24Bit。 高像素图像传感器:可测试1300万像素以上,用于移动终端、工业监控、科学分析等用途的图像传感器。具有海量数据吞吐能力,高速和并行数。附件:无附件
收费标准:
面议
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