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上海旻艾半导体有限公司
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大规模集成电路测试系统
型号:Chroma3380
制造厂商:Chroma
购置日期:
生产国别:其他
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
1:大规模集成电路芯片的测试,包括package和晶圆测试 2:主要以数字功能芯片的测试为主
主要技术指标:
(1)数字功能部分 1.时钟频率:100MHz 2.数字通道 :512 3,可以支持SCAN测试 (2)DC测试性能 1.Pin Driver : -2V~+6V 精准度 0.1mV 2. Pin Compare : -2V~+6V 精准度 0.1mV 3.电压源分辨率/电压源量测分辨率: 2mV/2mV 4.电流源分辨率/电流源量测分辨率:100nA/100nA
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
对外服务时间:工作日。参数:(1)数字功能部分 1.时钟频率:100MHz 2.数字通道 :512 3,可以支持SCAN测试 (2)DC测试性能 1.Pin Driver : -2V~+6V 精准度 0.1mV 2. Pin Compare : -2V~+6V 精准度 0.1mV 3.电压源分辨率/电压源量测分辨率: 2mV/2mV 4.电流源分辨率/电流源量测分辨率:100nA/100nA。附件:1.测试头 2.电源箱 3.工作站 4.测试板卡 DPS,UVI, LPC, TBS
收费标准:
面议
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