平台首页
大型仪器
  • 大型仪器

  • 服务项目

  • 服务机构

注册
中科纳米张家港化合物半导体研究所
机构首页 大型仪器 服务项目
当前位置:首页 > 大型仪器 > 仪器详情
半导体晶体测试仪
型号:LEI1510E
制造厂商:LEHIGHTON ELECTRONICS INC.
购置日期:
生产国别:
预约下单
免费咨询
仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
利用涡流原理无损快速测量晶圆所有导电层的方块电阻。
主要技术指标:
方块电阻高量程:15 Ω/□ ~ 3000 Ω/□;方块电阻低量程:0.16 Ω/□ ~ 15 Ω/□;测量探头直径为14mm;可测量2至8英寸晶圆,可测量300点。
服务内容:
服务典型成果:
用户须知:
收费标准:
询价
苏ICP备20003022号-3    |    苏州市生产力促进中心    |    0512-65246055