仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
针对各种材料表面微结构观察，测量样品尺寸，去层检查，截面分析，成份分析，表面特征分析等
主要技术指标：
分辨率： 1.0 nm （15KV,工作距离4mm）
2.0nm(1KV, 工作距离1.5mm)
1.4nm (1KV,工作距离1.5mm)减速模式
加速电压范围： 0.1 to 30 kV ( 0.1 kV 每步)
放大倍数： 低倍模式，20 to 2k；高倍模式，100 to 800k
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:周一至周日。参数：性能参数：
30KV高压下分辨率3.5nm
1KV电压下分辨率25nm
环扫条件下分辨率3.5nm
。附件：SEM：二次电子探测器
收费标准：
面议