仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
标准模型 工业规格 自动的X-Y平台 自动调焦
主要技术指标：
活动范围 300mm x 300mm
测量范围 100Å~ 35㎛(Depends on Film Type)
光斑尺寸 40㎛/20㎛,4㎛(option)
测量速度 1~2 sec./site (fitting time)
应用领域 All Capability of ST2000 & More Precision Measurement
Intended for Large Size Wafer Measure
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
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