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江苏集萃光电检测中心
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膜厚仪
型号:Dektak XT
制造厂商:Bruker(德国)
购置日期:
生产国别:进口
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仪器详情
用户评价
功能/应用范围:
1)配备有更小波长的光源(200-1100 nm); 2)非接触、不破坏样品地分析多层薄膜厚度、折射率和消光系数; 3)能够做多点面分布扫描测试;
主要技术指标:
主要参数: 最大扫描长度≥55 mm 测试所允许的最大样品厚度≥50 mm 垂直方向的扫描范围≥1000μm 测试高度方向的重复性≤0.4 nm(1 μm的标准台阶) 测试垂直分辨率≤0.1 nm 用途及功能: 主要用于薄膜材料厚度测量。可获得精确定量的台阶高度,线粗糙度,薄膜曲率半径,应力测试,表面3D形貌等测试功能。
服务内容:
仪器设备功能相关的样品测试、分析及技术咨询
服务典型成果:
用户须知:
以预约系统设置为准
收费标准:
面议
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