膜厚测量仪
型号：ME-Mapping 偏振态测量参数：Delta：-90°-270°，360°无死角。光谱范围：210-1000nm ，深紫外到近红外波段，无光纤外接设计。测控分析电脑：CPU：i5处理器，主频：3G
制造厂商：武汉颐光科技有限公司
购置日期：
生产国别：中国
预约下单
免费咨询
仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
测量薄膜厚度，测量介质的折射率
主要技术指标：
大光斑模式：1-4 mm
微光斑模式：200 um
单次测量时间小于15 s(可设定）
入射角范围：65度/45到90度
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
询价