仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
探测材料表面起伏形貌，测量表面粗糙度。
用于接触式表面形貌测量，主要应用于材料、半导体、MEMS 、太阳能电池等领域。
主要技术指标：
最长扫描长度：150 mm
分辨率：0.1 nm
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
面议