仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
用于半导体或非半导体材料的纵向结构分析
主要技术指标：
分辨率0.1nm
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:周一至周五。参数：分辨率0.1nm。附件：无
收费标准：
面议