仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
可进行粉末及薄膜样品的晶体结构分析，物相鉴定（物相定性、定量分析），相变分析，结晶度测定等。此外，还可进行小角散射纳米粒度测定、应力测定、织构测定等。
主要技术指标：
角度重现性，±0.0001o；测角准确度，0.0025o；探测器最大技术率，>4×106 cps；99％线性范围，>106 cps；最小背景，<0.2 cps；小角粒度测量范围，（0～300）nm
服务内容：
样品测试、分析检测、技术咨询、认证服务
服务典型成果：
无
用户须知：
用户填写委托单，按规定收费
收费标准：
面议