仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
主要采用集成电路设计过程中的电路修补，并可完成小区域纵向截面分析
主要技术指标：
分辨率4nm,最大可载入8inch wafer
服务内容：
服务典型成果：
无
用户须知：
对外服务时间:周一至周五。参数：分辨率4nm,最大可载入8inch wafer。附件：无
收费标准：
面议