仪器详情
用户评价
功能/应用范围：
膜厚测量，液晶盒厚测量。
用于探测无机或有机薄膜厚度、光学常数以及材料微结构，主要应用于半导体、材料、太阳能电池、 MEMS 、液晶、油墨涂料、生物等领域。
主要技术指标：
膜厚测量范围：10~30 µm
波长范围：250~1000 nm
波长分辨率：1 nm
服务内容：
服务典型成果：
用户须知：
收费标准：
面议